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切片分析檢測在電子器件領域有著至關重要的作用。首先,切片分析能夠幫助確定電子器件的內部結構。電子器件通常是多層結構,包含各種材料如半導體、金屬、絕緣層等。通過切片分析,可以將器件沿特定方向切開,然后在顯微鏡下觀察其橫截面。這樣能夠清晰地看到各層的厚度、形狀、排列順序等細節。例如,在集成電路中,切片分析可以明確芯片內部不同功能區域(如邏輯單元、存儲單元等)的分布情況,以及它們之間的連接方式,包括金屬
一、失效背景調查公司內部某單位所使用的U73Z002.00 PCB回流焊後發現U1 BGA出現大型空洞(area> 25%)。對該位置進行切片以確認不良現象,結果如下圖所示:根據IPC標準,BGA焊點氣泡面積應 ≤25%二、空洞產生機理氣體來源﹕水汽:(1) Flux與金屬氧化物(SnO/CuO) 反應后產生水分2RCOOH+SnO/CuO—→Sn/Cu(RCOO)2+H2O↑(2) Flu
作為化學成分檢測第三方機構,優爾鴻信,在電子產品、汽車材料零部件、半導體材料、電子元件、塑料原料、金屬材料、產品工業、整機環保管控等領域,針對重金屬超標測試,已有成熟的分析方案。常用重金屬含量測定方法有:XRF熒光光譜法、ICP電感耦合等離子體光譜法、ICP-MS電感耦合等離子質譜法、AAS原子吸收法、UV紫外可分光光度法等。XRF熒光光譜法,具有快速、無損檢測表面成分的優勢。ICP電感耦合等離子
背景:客戶生產的主板上的BGA在*二次過爐后出現開裂現象,斷裂發生在組件側。故委托實驗室進行分析,以便找到失效原因。?分析結果:?1.熒光劑浸泡+冷拔+斷口分析結果,排除“金脆”引發BGA開裂的可能性。?2.動態翹曲度測試結果表明,PCB四連板在加熱過程中變形明顯,呈現中間下凹、左右兩邊上凸的形態。且其在冷卻完成后翹曲較嚴重。3.開裂焊點統計結果顯示,開裂多發生在未植
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