南京X射線測(cè)厚儀

時(shí)間：2025-06-26作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：10

江蘇天瑞儀器股份有限公司專注于手持式光譜儀,手持式合金分析儀,重金屬檢測(cè)儀,直讀光譜儀,VOC檢測(cè)儀,合金分析儀,元素分析儀,紫外光譜儀,原子吸收光譜儀等, 歡迎致電 18626188839

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  詞條說明

• 江蘇電鍍膜厚分析儀

  電鍍膜厚分析儀的關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用** 電鍍膜厚分析儀是電鍍行業(yè)質(zhì)量控制的**設(shè)備之一，主要用于測(cè)量金屬鍍層的厚度。在江蘇這樣的制造業(yè)發(fā)達(dá)地區(qū)，該設(shè)備的應(yīng)用尤為廣泛，涉及電子、汽車、五金等多個(gè)領(lǐng)域。它的測(cè)量精度、穩(wěn)定性和適用性直接影響產(chǎn)品的合格率與性能。 測(cè)量原理與**技術(shù) 電鍍膜厚分析儀通常采用X射線熒光（XRF）或渦流檢測(cè)技術(shù)。XRF技術(shù)通過激發(fā)鍍層原子產(chǎn)生特征X射線，根據(jù)能量和強(qiáng)度計(jì)算膜厚，適

• 原子吸收光譜儀由什么組成？

  原子吸收光譜儀由以下四部分組成1.光源系統(tǒng):空心陰極燈2.原子化系統(tǒng):火焰原子化器;石墨爐原子化器或氫化物發(fā)生器。3.分光系統(tǒng)：?jiǎn)紊?.檢測(cè)系統(tǒng)：光電倍增管等一、光源系統(tǒng):原子吸收光源應(yīng)滿足以下條件1.能輻射出半寬度比吸收線半寬度還窄的譜線，并且**線的中心頻率應(yīng)與吸收線的中心頻率相同。2.輻射的強(qiáng)度應(yīng)足夠大。3.輻射光的強(qiáng)度要穩(wěn)定，且背景小。原子化器是將樣品中的待測(cè)組份轉(zhuǎn)化為基態(tài)原子的裝置。二

• X原子熒光和原子吸收光譜儀的區(qū)別

  X原子熒光和原子吸收光譜儀的區(qū)別1.原子吸收光譜儀原子吸收光譜儀利用待測(cè)元素所產(chǎn)生的基態(tài)原子對(duì)其特征譜線的吸收程度來進(jìn)行定量分析的方法。原子吸收光譜儀的光源是空心陰極燈，檢測(cè)的樣品是溶液。2.X射線熒光光譜儀X射線熒光光譜儀樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。**源是Rh靶X光管，盡管二者都是把物質(zhì)激發(fā)后檢測(cè)其熒光，但二者的區(qū)別很大

• 浙江鍍層膜厚分析儀

  鍍層膜厚測(cè)量技術(shù)的關(guān)鍵要點(diǎn)在工業(yè)制造領(lǐng)域，鍍層膜厚的精確測(cè)量直接影響產(chǎn)品質(zhì)量。X射線熒光法是目前應(yīng)用較廣泛的技術(shù)之一，其原理是通過測(cè)量鍍層材料受激發(fā)后產(chǎn)生的特征X射線強(qiáng)度來確定厚度。這種方法具有非破壞性特點(diǎn)，適用于多種金屬鍍層的測(cè)量。電化學(xué)測(cè)厚法通過測(cè)量鍍層溶解所需電量來計(jì)算厚度，操作簡(jiǎn)便但會(huì)對(duì)樣品造成破壞。磁性測(cè)厚儀利用鍍層與基體磁導(dǎo)率差異進(jìn)行測(cè)量，特別適用于鋼鐵基體上的非磁性鍍層。渦流測(cè)厚儀則