詞條
詞條說明
Specim-IQ手持式高光譜成像儀在藝術和考古學中的高光譜成像應用
經過歲月的洗禮,很多文物古跡都會受到一定程度的損壞、風化、腐蝕變得異常脆弱,很難承受接觸式檢測帶來的損傷和破壞,這對文物受損程度的評判、掩蓋信息的發現和修復帶來了巨大地阻礙。此外,仿真技術的發展,越來越多的贗品讓人難以分辨,對于世界藝術的發展起著巨大阻礙。藝術和考古學中的高光譜成像,已成為保護文物的一種趨勢。芬蘭Specim提供的高光譜成像儀Specim-IQ可應用于藝術和考古學方面。Specim
離軸拋物面式光纖耦合器又稱為離軸拋物面光纖準直器、光纖準直器(反射型)、反射式準直器或反射型光纖準直器。目前標準化的有24種型號,其通光孔徑主要分為?7.5 mm、?11 mm和?22 mm三種。離軸拋物面光纖準直器具有消色差設計的特點,能夠準直反射鏡的整個反射帶。其適用于FC/PC,FC/APC,SMA 905三種光纖接頭,能夠針對不同接口的應用,將多色光耦合到多模光纖中。離軸拋物面光纖準直器是
使用National Synchrotron Light Source的光束線X24C測量EUV硅光電二極管(AXUV100型)的性能特性,在-92°C+41°C的溫度范圍內、3.0nm-88.2nm的波長范圍內,測量了二極管的靈敏度。這項工作可以更好的理解比室溫更冷或更熱的環境中的二極管靈敏度變化,例如在航天器上或在強烈的同步加速器或激光照射下。此外,還測量了具有多層干涉涂層的AVU100二極管
首先介紹一下光的干涉。由于光的波動特性,若干列光波在空間相遇時,互相疊加或互相抵消,引起光強的重新分布,在某些區域始終加強,在某些區域始終減弱,從而出現了明暗相間的條紋,這種現象稱為光的干涉。我們回顧一下物理學史上著名的光學實驗——楊氏雙縫干涉實驗。單色光源從小孔S進入,從小孔S射出并經過兩個對稱的小孔S1、S2。由S1、S2分射出的兩列光波來源于同一光波,頻率相同、振動方向相同、相位差恒定,因而
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
聯系人: 劉先生
電 話: 0755-84870203
手 機: 18926463275
微 信: 18926463275
地 址: 廣東深圳龍崗區龍崗區平湖街道華南城1號館
郵 編: