在線研討會(huì)邀請(qǐng)-電路板清潔度檢測(cè)和離子污染度測(cè)定案例分享

時(shí)間：2025-06-23作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：558

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專注于高低溫測(cè)試,光老化測(cè)試,振動(dòng)沖擊測(cè)試,IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試,鹽霧腐蝕測(cè)試,HALT測(cè)試,sem+eds測(cè)試,清潔度測(cè)試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

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• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)知識(shí)|7系鋁合金材料牌號(hào)鑒定標(biāo)準(zhǔn)有哪些？

  7系鋁合金牌號(hào)鑒定標(biāo)準(zhǔn)如下：國(guó)標(biāo)：7A09 GB/T3190--2008日標(biāo)：A7075 JIS H4000-1999 JIS H4080-1999非標(biāo)：76528 IS 733-2001 IS737-2001俄標(biāo)：B95/1950 rocT 4785-1974EN:EN AW-7075/AlZn5.5MgCu EN573-3-1994德標(biāo):AlZnMgCu1.5/3.4365 DIN172.1-

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|常見的IC檢測(cè)設(shè)備有哪些？

  以下是一些常見的 IC 檢測(cè)設(shè)備：自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）功能：可自動(dòng)對(duì) IC 進(jìn)行性能驗(yàn)證和故障診斷，能精確測(cè)量和評(píng)估芯片各項(xiàng)性能指標(biāo)，通過自動(dòng)化測(cè)試流程大幅提高測(cè)試效率，支持多種測(cè)試模式和程序以滿足不同測(cè)試需求，并采用先進(jìn)故障診斷和隔離技術(shù)確保測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠.應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、制造、封裝等各個(gè)環(huán)節(jié)，如 SoC 測(cè)試機(jī)用于智能手機(jī)、平板電腦、數(shù)據(jù)中心等高端電子設(shè)備中的系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試；存

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè) 東莞噪音測(cè)試 噪聲檢測(cè)方法

  東莞噪音測(cè)試 噪聲檢測(cè)方法環(huán)境噪聲檢測(cè)儀器精度為2型及2型以上的積分平均聲級(jí)計(jì)或環(huán)境噪聲自動(dòng)監(jiān)測(cè)儀器，其性能應(yīng)符合要求GB3785和GB/T17181規(guī)定并定期驗(yàn)證。測(cè)量前后使用聲校準(zhǔn)器校準(zhǔn)測(cè)量?jī)x器的示值偏差不得大于0.5dB，否則，測(cè)量無效。聲校準(zhǔn)器應(yīng)滿足要求。GB/T15173對(duì)一級(jí)或二級(jí)聲校準(zhǔn)器的要求。測(cè)量時(shí)，傳聲器應(yīng)加防風(fēng)罩。根據(jù)監(jiān)測(cè)對(duì)象和目的，可選擇以下三種測(cè)點(diǎn)條件（指?jìng)髀暺鞯奈恢茫┻M(jìn)行

• 優(yōu)爾鴻信成分分析|電子產(chǎn)品重金屬超標(biāo)怎么檢測(cè)？

  作為化學(xué)成分檢測(cè)第三方機(jī)構(gòu)，優(yōu)爾鴻信，在電子產(chǎn)品、汽車材料零部件、半導(dǎo)體材料、電子元件、塑料原料、金屬材料、產(chǎn)品工業(yè)、整機(jī)環(huán)保管控等領(lǐng)域，針對(duì)重金屬超標(biāo)測(cè)試，已有成熟的分析方案。常用重金屬含量測(cè)定方法有：XRF熒光光譜法、ICP電感耦合等離子體光譜法、ICP-MS電感耦合等離子質(zhì)譜法、AAS原子吸收法、UV紫外可分光光度法等。XRF熒光光譜法，具有快速、無損檢測(cè)表面成分的優(yōu)勢(shì)。ICP電感耦合等離子