擴(kuò)大貼片電阻生產(chǎn)，緩解缺貨市場(chǎng)狀況

時(shí)間：2018-06-08作者：深圳市新晨陽(yáng)電子有限公司瀏覽：28

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 什么是耦合電容和退耦電容

  什么是耦合 耦合指信號(hào)由**級(jí)向*二級(jí)傳遞的過(guò)程，通常不加以說(shuō)明時(shí)都是指交流耦合。 什么是退耦 退耦是指對(duì)電源采取進(jìn)一步的濾波措施，消除兩級(jí)間信號(hào)通過(guò)電源互相影響的干擾。耦合常數(shù)是指耦合電容值與*二級(jí)輸入阻抗值乘積對(duì)應(yīng)的時(shí)間常數(shù)。

• 壓敏電阻的老化失效問(wèn)題

  氧化鋅壓敏電阻的老化失效問(wèn)題主要指的是電阻體的低阻線性逐步加劇，此時(shí)漏電流將會(huì)惡性增加且集中注入薄弱點(diǎn)。 導(dǎo)致薄弱點(diǎn)材料融化，形成一千歐左右的短路孔后，電源繼續(xù)推動(dòng)一個(gè)較大的電流灌入短路點(diǎn)，形成高熱而起火。 若壓敏電阻存在著制造缺陷，易發(fā)生早期失效，強(qiáng)度不大的電沖擊的多次作用也會(huì)加速老化過(guò)程，使老化失效提早出現(xiàn)。 壓敏電阻器出現(xiàn)暫態(tài)過(guò)電壓破壞則是一個(gè)短時(shí)間內(nèi)造成器件損壞的情況，所謂的暫態(tài)過(guò)電壓破

• 風(fēng)華高壓陶瓷電容器的可靠性試驗(yàn)主要測(cè)試哪些項(xiàng)目？

  高壓陶瓷電容器的可靠性測(cè)試，也叫老化測(cè)試，壽命測(cè)試，包括很多方面的測(cè)試內(nèi)容： 1，耐壓實(shí)驗(yàn)，包括額定工作電壓24小時(shí)工作測(cè)試；也包括擊穿耐壓，即破壞性測(cè)試，電容被擊穿前的那一個(gè)臨界電壓就是擊穿電壓。 2，串聯(lián)電阻測(cè)試，絕緣電阻測(cè)試； 3，拉力測(cè)試，即引線與芯片焊接的牢固度； 4，正負(fù)溫變化率測(cè)試，即-40度到+60度狀況下，電容的變化率； 5，老化測(cè)試，電容在模擬工作環(huán)境狀態(tài)下運(yùn)作30~60天，

• 電容通常起著電極的作用

  在使用金屬膜電容的時(shí)候，是作為一種電容來(lái)使用的，金屬膜電容通常起著電極的作用。 比起以前的產(chǎn)品來(lái)說(shuō)，優(yōu)勢(shì)就是產(chǎn)品的占用體積是非常的小的，特別的適合于現(xiàn)在很多小的電子產(chǎn)品的設(shè)備。 進(jìn)一步的滿足了人們的需求，給人們的利益帶來(lái)程度上的展現(xiàn)。 尤其是該產(chǎn)品的使用可以進(jìn)一步的促進(jìn)了產(chǎn)品的利益化，只有這樣才可以進(jìn)一步的促進(jìn)整個(gè)電壓的安全性。 通常情況下，有效的金屬膜電容可以有效的按照原理進(jìn)行工作的。 不存在