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詞條說明
單片陶瓷電容器(通稱貼片電容)是目前用量比較大的常用元件,下面我們僅就常用的NPO、X7R、Z5U和Y5V來介紹一下它們的性能和應用以及采購中應注意的訂貨事項以引起大家的注意。 NPO、X7R、Z5U和Y5V的主要區別是它們的填充介質不同。在相同的體積下由于填充介質不同所組成的電容器的容量就不同,隨之帶來的電容器的介質損耗、容量穩定性等也就不同。所以在使用電容器時應根據電容器在電路中作用不同來選
很多客戶在購買完貼片電容使用時會遇到電容開裂,短路,燒毀等現象,那么碰到這些現象該如何應對呢,首先我們要知道造成這些現象的是什么原因。 一、開裂是指電容器上出現裂痕導致產品無法正常工作這種現象一般是為低阻造成的原因有 1.PCB受外力后斷路居多。 2.非電容本體受了外力撞擊,就有可能會短路或呈低阻。 3.外施應力電壓過高也會導至MLCC電容失效,一般是短路或低阻,但此類現象在預留足夠余量的情況下
MLCC(片狀多層陶瓷電容)現在已經成為了電子電路較常用的元件之一。MLCC外表看來,十分簡略,但是,許多情況下,設計工程師或出產、工藝人員對MLCC的認識卻有缺乏的當地。有些公司在MLCC的應用上也會有一些誤區,認為MLCC是很簡略的元件,所以工藝要求不高。其實,MLCC是很軟弱的元件,應用時必定要留意。-以下談談MLCC應用上的一些問題和留意事項。- 跟著技術的不斷發展,貼片電容MLCC現在
哪些因素會導致高壓電容器的損耗 通常將電容器在電場作用下因發熱而消耗的能量稱為電容器的損耗。習慣上以損耗角正切tgδ表示電容器損耗的大小,而把tgδ稱為損耗因數。 高壓電容器能量的損耗分為介質損耗和金屬損耗兩部分。介質損耗包括介質的漏電流所引起的電導損耗以及介質較化引起的較化損耗等。金屬損耗包括金屬較板和引線端的接觸電阻引起的損耗。由于各種金屬材料的電阻率不同,金屬損耗隨頻率和溫度增高而增大的程
公司名: 深圳市新晨陽電子有限公司
聯系人: 羅智能
電 話: 0755-28682867
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地 址: 廣東深圳寶安區深圳市光明新區公明街道長春路中鵬程工業園1棟3樓
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